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2024-11-25
+2024-11-11
+2024-11-05
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ZJ-4型壓電測試儀（靜壓電系數d33測量儀）是為測量壓電材料的d33常數而設計的儀器，它可用來測量具有大壓電常數的壓電陶瓷，小壓電常數的壓電單晶及壓電高分子材料。此外，也可測量任意取向壓電單晶以及某些壓電器件的等效壓電d’33常數，儀器測量范圍寬，分辨率細，可靠性高，操作簡單，對試樣大小及形狀無特殊要求，圓片、圓環、圓管、方塊、長條、柱形及半球殼等均可測量，測量結果和極性在三位半數字面板
高低溫介電測量儀主要應用于高低溫下材料的介電性能測試與分析，包括介電常數、介電損耗、電容等參數，同時測試出測試材料的其他阻抗參數，廣泛應用于陶瓷材料、半導體器件及功能薄膜材料等研究 。
JKGT-G300高溫鐵電材料測試儀是一套建立在高溫高壓下的鐵電測量系統，旨在針對一些特殊的要求材料需要在高溫下測量而研發的一套鐵電測量系統。該系統不僅僅在溫度上將實現了高溫測試，而且在電壓和頻率上進行了提高，對我們的鐵電材料研究和測試帶來更加重要的幫助，該系統可以測量鐵電材料的電滯回線，飽和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場Ec、漏電流、疲勞、保持、I-V。
熱電材料性能測試儀由高精度，高靈敏度溫度可控的電阻爐和控制溫度用的微型加熱源構成。通過PID程序控溫，采用四點法的方式測定半導體材料及熱電材料的Seebeck系數及電導率、電阻率。試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出。
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